電弧紅外碳硫分析儀檢測(cè)系統(tǒng)的不穩(wěn)定性直接影響被測(cè)物質(zhì)分析結(jié)果的準(zhǔn)確性.針對(duì)紅外碳硫分析儀的結(jié)構(gòu)特點(diǎn),結(jié)合其工作原理,從工作電源、紅外光源、斬波馬達(dá)、紅外線檢測(cè)器、前置放大器、A/D轉(zhuǎn)換板等幾部分對(duì)不穩(wěn)定因素進(jìn)行了分析探討,并提出了解決問題的思路,對(duì)提高儀器的維護(hù)效率具有重要的指導(dǎo)意義。被測(cè)物質(zhì)信號(hào)與檢測(cè)系統(tǒng)中的工作電源輸出值、紅外源輻射功率、斬波馬達(dá)頻率、紅外光檢測(cè)器、A／D模數(shù)轉(zhuǎn)換器、以及外部干擾因素都有很大關(guān)系，影響其系統(tǒng)的原因如下。

　　一、斬波馬達(dá)
　　斬波馬達(dá)是將光信號(hào)調(diào)制成具有一定頻率的信號(hào)送人到檢測(cè)器，這樣設(shè)計(jì)是把紅外光信號(hào)斬波成方波信號(hào)，確保信號(hào)經(jīng)電路放大后的穩(wěn)定性。因此，馬達(dá)工作不正常，將引起檢測(cè)器信號(hào)輸出小甚至無輸出，主要有以下原因：
　?。?）斬波馬達(dá)不轉(zhuǎn)動(dòng)；其一是工作電源故障，其二是斬波馬達(dá)轉(zhuǎn)動(dòng)軸卡住。
　?。?）由于馬達(dá)長(zhǎng)期轉(zhuǎn)動(dòng)磨損，軸套間隙大，馬達(dá)葉片轉(zhuǎn)動(dòng)不穩(wěn)定，甚至葉片碰到檢測(cè)池池壁受阻、卡住。
　?。?）斬波馬達(dá)工作調(diào)制頻率脫離正常值，引起通過光孔的光忽大忽小，檢測(cè)器的接收信號(hào)波動(dòng)甚至為零。
　　二、紅外光源
　　紅外光源發(fā)射的紅外輻射與光輻射功率成正比。光輻射功率變化直接影響到信號(hào)輸出大小的變化，這樣的變化將引起檢測(cè)器基線的變化，即紅外輻射有無或大小，檢測(cè)器基線將隨之反映出來。引起紅外光源輻射信號(hào)變化的原因有以下幾種：
　?。?）光源逐漸老化，光輻射減弱，信號(hào)輸出低。碳和硫檢測(cè)器的基線輸出值也會(huì)逐漸降低，當(dāng)?shù)陀谡７秶鷷r(shí)儀器將報(bào)警。
　?。?）光源加熱絲斷裂或脫焊，無信號(hào)輸出。測(cè)量光源加熱絲電阻值是否正確（正確值一般為5Q左右）。
　　（3）光源加熱絲虛焊及電源插頭氧化導(dǎo)致接觸不良。由于接觸電阻發(fā)生變化，信號(hào)輸出忽高忽低變化值特別大，這種情況往往被人們忽視。
　　三、工作電源
　　檢測(cè)系統(tǒng)工作電源有±15V、5．5V、24V、5V，它是保證檢測(cè)系統(tǒng)正常工作的先決條件，這部分電路工作狀況及輸出值不正常的原因?yàn)椋?br />　　（1）部分器件老化，造成輸出值不穩(wěn)定，紋波大。正常情況電源輸出允許波動(dòng)范圍應(yīng)在±10％內(nèi)，若超出范圍視為不正常。
　?。?）部分器件損壞無輸出或輸出波形不對(duì)。通過測(cè)量電路中主要工作點(diǎn)電壓與正常值進(jìn)行對(duì)比，可找出損壞元件。
　　四、紅外線檢測(cè)器
　　紅外線檢測(cè)器是氣體分析儀的關(guān)鍵部件，通過紅外線輻射把光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，正常工作情況下應(yīng)保證環(huán)境溫度穩(wěn)定，避免干擾信號(hào)。易出現(xiàn)的情況是：
　?。?）器件老化靈敏度低，輸出信號(hào)噪聲大。
　　（2）器件損壞無輸出信號(hào)。
　?。?）器件焊點(diǎn)氧化、虛焊接觸不良，輸出信號(hào)不穩(wěn)定。
　　五、前置放大器
　　前置放大器將檢測(cè)器輸出的微弱信號(hào)進(jìn)行放大、濾波、直流放大。該系統(tǒng)每部分的微小變化都將引起放大器的變化 J，zui易發(fā)生的問題主要有以下幾方面。
　?。?）調(diào)零電位器、增益調(diào)節(jié)電位器接觸不良。使用一段時(shí)間后將電位器左右旋轉(zhuǎn)幾下，確保接觸良好。
　　（2）號(hào)放大器性能下降。檢查時(shí)應(yīng)主要關(guān)注濾波電容，接地是否良好。
　?。?）四運(yùn)放放大器放大倍數(shù)降低，造成后續(xù)分析結(jié)果偏低。
　　六、A／D轉(zhuǎn)換板
　　電壓信號(hào)通過16轉(zhuǎn)1芯片進(jìn)行信號(hào)采集，再經(jīng)A／D芯片轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并送人計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理，這個(gè)過程易產(chǎn)生干擾信號(hào)，導(dǎo)致系統(tǒng)監(jiān)視窗口觀察工作條件、樣品檢測(cè)積分過程及計(jì)算受到影響，主要原因是：
　　（1）儀器接地不好，外界干擾信號(hào)，導(dǎo)致采集數(shù)據(jù)遺漏。
　?。?）A／D轉(zhuǎn)換板的器件老化質(zhì)量下降，造成干擾信號(hào)增加，數(shù)字信號(hào)紊亂。
　　（3）A／D轉(zhuǎn)換板與總線插槽接觸不良，導(dǎo)致采集數(shù)據(jù)丟失。
　　　通過對(duì)不穩(wěn)定影響因素的分析，對(duì)電子器件老化、性能下降所帶來的信號(hào)輸出值不穩(wěn)定或無輸出，紋波大，輸出信號(hào)噪聲大，采集數(shù)據(jù)遺漏或丟失等一系列問題的解決及提高設(shè)備的利用率起到重要的作用。